在线膜厚仪利用光的干涉原理，通过分析薄膜表面对入射光的反射与干涉信号来计算薄膜厚度。当光线照射到薄膜表面时，一部分光会在薄膜上表面反射，另一部分透过薄膜在下表面反射，这两束反射光相互干涉形成特定的图案或光谱分布，仪器通过检测这些干涉信息来确定薄膜厚度。这种方法分辨率可达纳米级，适用于超薄光学镀膜或半导体材料的检测。
激光三角法：使用高精度激光位移传感器发射束流至被测表面，利用反射光斑的位置变化准确计算膜层厚度。激光照射到物体表面后，会在不同位置产生散射点，这些散射点的分布形态与被测物体的形状有关，进而可以推算出薄膜的厚度。该方法测量精度高、响应速度快。
涡流法：主要适用于测量非磁性基底上的涂层厚度。通过在探头中产生高频交流电，进而产生涡流，涡流的强度和相位变化与涂层的厚度有关，以此实现对涂层厚度的测量。
磁感应法：适用于测量磁性基底上的非磁性涂层的厚度。仪器通过测量磁场强度的变化来确定涂层的厚度。当探头靠近涂层时，磁场线会穿过涂层并受到其厚度的影响，从而改变磁场强度。
在线膜厚仪的优点：
1.实时性：能够直接集成到生产线中，对薄膜厚度进行实时、连续的测量。这使得生产过程中可以及时发现厚度异常情况，便于及时调整工艺参数，保证产品质量的稳定性，减少废品率。
2.非接触式测量：避免了传统接触式测量方法可能带来的薄膜损伤和污染风险。对于一些对表面质量要求较高的产品，如光学薄膜、电子薄膜等，这种非接触式的测量方式尤为重要，能够在不影响产品性能的前提下完成检测。
3.高精度：采用传感器与算法，具有很高的测量精度，可以准确地测量出微小的厚度变化。
4.多参数灵活设置：可根据不同的应用场景和测量需求，灵活设置各种参数，以实现测量效果，适应多样化的生产要求。
5.高效自动化：可以实现自动化测量和数据采集，大大提高了生产效率，降低了人工劳动强度。同时，测量数据可以实时传输到控制系统，便于进行统计分析和质量控制。
6.安全性好：相比放射线测量方法更安全，且成本更低、容易操作。
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